BSD-PM系列比表面及微孔分析仪

BSD-PM系列比表面及微孔分析仪

测试原理：

在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；

BSD-PM系列比表面及微孔分析仪

测试理论：

吸附、脱附等温线测定            BET比表面测定(单点/多点法)；

朗格缪尔(Langmuir)比表面         统计吸附层厚度法外比表面； 

BJH法孔容孔径分布              MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； 

D-R法微孔分析                  t-plot法(Boder)微孔分析；

H-K法(Original)微孔分析         MP法(Brunauer) 微孔分析；

DFT孔径分析;                  真密度测试、粒度估算报告；

具有IASTL理论模型            吸附/脱附报告模型